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      PCB板面清潔度測試隨著高性能、高可靠性電子產(chǎn)品對PCB/PCBA的質(zhì)量要求日益嚴格，清潔度作為評價PCB/PCBA質(zhì)量的關(guān)鍵參數(shù)之一，是檢驗PCB表面殘留離子的程度，防止腐蝕失效和電遷移失效的發(fā)生。

適用產(chǎn)品：精密零件及組件，發(fā)動機零件，如變速箱, 引擎, 曲軸桿 和凸輪軸等。

檢測標(biāo)準：ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 14039、JB。

設(shè)備介紹

干法顆粒物萃取設(shè)備采用高真空吸入抽取的方式對污染顆粒進行收集，它是一種全新的動態(tài)非破壞式顆粒物萃取方法，對大型、高表面積零部件以及對工作現(xiàn)場環(huán)境的技術(shù)清潔度檢測變得更加高效 、經(jīng)濟、精確且更具行業(yè)針對性，特別是對鋰電池零部件檢測更加可靠。

設(shè)備對污染顆粒物的抽取式采集方式，經(jīng)指數(shù)衰減法測試并認定，W全符合VDA 19.1或ISO 16232中對顆粒物采集步驟的相關(guān)規(guī)定與要求，因此可滿足VDA 19.1對后續(xù)微觀分析結(jié)果的可再現(xiàn)比對要求。

相較于所謂的“濕法"沖洗式顆粒物萃取方式（如在VDA 19.1或ISO 16232中描述的液體介質(zhì)提取法），干法顆粒物抽取方式在多種應(yīng)用領(lǐng)域中具有Du特的不可替代性優(yōu)勢。